(1) Лазер с двойной длиной волны, автоматическое переключение
Для создания оптической системы используется исключительно лазер с двойной длиной волны (A=450 нм, A= 532 нм). Система обнаружения корреляционного спектра не только небольшого размера, но и обладает сильной способностью противоинтерференции, что обеспечивает стабильность теста. Для некоторых образцов с поглощающими свойствами, которые невозможно обнаружить традиционным одноволновым лазером, это можно эффективно проверить.
(2) Принцип продвинутого тестирования
Принцип динамического рассеяния света и технология спектра корреляции фотонов. Согласно броуновской скорости движения частиц для проверки размера частиц, разный размер частиц имеет разную скорость; когда лазер освещает эти частицы, это приводит к разной скорости флуктуаций и снижения света.
Метод фотокорреляционного спектра анализирует размеры этих частиц в зависимости от флуктуаций фотонов в определённом направлении.
(3) Высокое разрешение
С помощью ПЦР-технологии для тестирования размера частиц на нанометровом уровне необходимо уметь различать флуктуации сигнала в наносекундах. Основные компоненты прибора — цифровой коррелятор CR256, разработанный компанией Winner. Его скорость разрешения может достигать 8 нс.
(4) Высокая чувствительность и отношение шум-сигнал
Детектор состоит из импортного фотомножителя HAMAMATSU, поэтому обеспечьте хорошую точность.
(5) Высокоскоростной сбор и расчёт данных
Самостоятельно разработанный патентный продукт — цифровая корреляция CR256, он может завершать динамическое рассеяние, сбор интенсивности света и автоматический корреляционный расчет функций в реальном времени. Скорость обработки данных достигает 162 М, эффективно отражает информацию о динамическом рассеянии света различных размеров частиц.
(6) Система высокоустойчивого оптического пути
Система обнаружения спектра корреляции фотонов использует оптоволоконную технологию, меньший размер, обладает высокой антиинтерференцией и надёжностью.
(7) Высокоточная система постоянного контроля температуры
Технология контроля температуры полупроводников, точное управление в пределах 0,1°C. Он обеспечивает постоянное состояние образцов на протяжении всего процесса тестирования, предотвращая ошибки тестирования, поскольку изменение температуры влияет на вязкость жидкости и скорость броуновского движения.
(8) Отчет о точных испытаниях
Параметры выхода: распределение вещественных размеров частиц, свободно установленное D10-D100, D[4,3], D[3,2], D[2,11], D[1,0] и удельная площадь поверхности.