EN 
ES 
AR 
PT 
Измеряемый параметр
| Аналитический метод | Диапазон размеров частиц（мкм） |
Длина | оптический микроскоп | >0.5 0.001～200 |
электронный микроскоп | ||
Площадь поперечного сечения, площадь поверхности
| оптический микроскоп | >0.5
|
электронный микроскоп | 0.001～200 | |
тепловизор | >0.5
| |
способ просеивания | >3 | |
Затемнение света | 0.003～100 | |
Способ дискового центробежного осаждения | 0.02～30 | |
способ легкой блокировки | 1～100 | |
Классификация электромиграции
| 0.005～1 | |
объем ,масса | X-способ малоуглового рассеяния лучей
| 0.003～0.5 |
Лазерный анализатор размера частиц | 0.05～8000 | |
гравитационное оседание метод | 1～100 | |
способ определения удельного сопротивления | 0.5～100 | |
Способ динамического рассеяния света
| 0.003～10 | |
Диффузионная ячейка
| 0.005～0.2 | |
Ультразвуковой спектр
| 0.01～100 |
Авторские © права принадлежат Jinan Winner Particle Instrument Stock Co., Ltd. Все права защищены | Карта сайта
